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光譜法合金分析儀工作原理介紹

        合金分析儀是一種XRF光譜分析技術，可用于識別和量化物質中的特定元素。它可以根據X射線的發射波長（λ）和能量（E）確定特定元素，并通過測量相應射線的密度來確定該元素的含量。 XRF光譜可以確定物質的元素組成。
        每個原子都有自己固定數量的電子（帶負電的粒子）圍繞原子核運行。并且電子的數量等于原子核中的質子（帶正電的粒子）的數量。質子數由元素周期表中的原子數可知。每個原子序數對應一個固定的元素名稱。能量色散X-熒光和波長色散X-射線熒光光譜分析技術專門研究和應用了內層的三個電子軌道，即K、L和M。K軌道*接近于原子核，每個電子軌道對應于某種元素的特定能量層。
        在 XRF 分析中，從 X 射線管發射的高能初級射線光子撞擊樣品元素。這些初級光子包含足夠的能量來擊落內層（K 層或 L 層）中的電子。此時，原子變成不穩定的離子。由于電子本能地尋求穩定性，因此來自外層 L 或 M 層的電子進入構成內層的空間。當這些電子從外層傳遞到內層時，它們會釋放出稱為二次 X 射線光子的能量。整個過程稱為熒光輻射。每種元素的二次射線都有自己的特點。 X射線光子熒光輻射產生的能量是由電子轉換過程中內外層的能量差決定的。特定元素在一定時期內發射的 X 射線的數量或密度可用于測量該元素的數量。典型的 XRF 能量分布光譜顯示了不同能量下的光子密度分布。